この商品をお持ちですか? マーケットプレイスに出品する
裏表紙を表示 表紙を表示
サンプルを聴く 再生中... 一時停止   Audible オーディオエディションのサンプルをお聴きいただいています。
この画像を表示

はじめてのデバイス評価技術 (ビギナーズブックス) 単行本 – 2000/1


その他()の形式およびエディションを表示する 他のフォーマットおよびエディションを非表示にする
Amazon 価格
新品 中古品
単行本
¥ 500

この商品には新版があります:

click to open popover


この商品を見た後に買っているのは?

Kindle 端末は必要ありません。無料 Kindle アプリのいずれかをダウンロードすると、スマートフォン、タブレットPCで Kindle 本をお読みいただけます。

  • Apple
  • Android
  • Android

無料アプリを入手するには、Eメールアドレスを入力してください。


商品の説明

メディア掲載レビューほか

LSIメーカーのビジネスの根幹にかかわるデバイス評価技術を写真付きでわかりやすく説明
LSIメーカーはいま,0.18μm以降のシステムLSIに関して,きわめて大きな課題に直面している。チップの誤動作や性能不足,信頼性低下といった不具合が試作後,または市場投入後に生じ,これを避けようとすると設計期間が圧倒的に長くなって納期に間に合わなくなることである。これを引き起こす大きな原因に,エレクトロマイグレーションやストレスマイグレーションといった問題がある。こうした問題を回避するためには,きちんとしたデバイス評価技術を構築することが必要になる。

著者は,この「評価」を「機能の評価」「信頼性の評価」「故障の評価」に大別する。このそれぞれについて,初めてその技術を学ぶ人に向けて平易に説明している。わかりやすさを実現するために,数式を可能な限り使わないことや,写真を多用することでイメージをつかみやすくした。本書は,ベースになる技術が広範囲にわたるためにとかく全体像を理解しづらいといわれるデバイス評価技術の全ぼうを示している。 (ブックレビュー社)
(Copyright©2000 ブックレビュー社.All rights reserved.)
-- ブックレビュー社

内容(「BOOK」データベースより)

半導体デバイスにとって信頼性は重要なテーマである。わが国の半導体産業は短期間に大きな飛躍を遂げたが、その要因はデバイスの品質の良さにあったといっても過言ではない。これはプロセス・評価技術がしっかりしていたためといえる。本書はこの評価技術の全貌を著者の経験を交えて、初めての人でも十分理解できるようにまとめた実務書である。

商品の説明をすべて表示する

登録情報

  • 単行本: 242ページ
  • 出版社: 工業調査会 (2000/01)
  • 言語: 日本語
  • ISBN-10: 4769311796
  • ISBN-13: 978-4769311799
  • 発売日: 2000/01
  • 梱包サイズ: 21 x 14.8 x 2 cm
  • おすすめ度: この商品の最初のレビューを書き込んでください。
  • Amazon 売れ筋ランキング: 本 - 904,637位 (本の売れ筋ランキングを見る)
  • さらに安い価格について知らせる
    この商品を出品する場合、出品者サポートを通じて更新を提案したいですか?

  • 目次を見る

カスタマーレビュー

まだカスタマーレビューはありません。
他のお客様にも意見を伝えましょう
同様の商品をご覧になりませんか? こちらのリンクで参照ください。sony a6500sony eマウント レンズ