このページを日本語で表示しますか?ここをクリック


Have one to sell? Sell yours here
 
 
実例で見る商標審査基準の解説
  

実例で見る商標審査基準の解説 (単行本)

by 工藤 莞司 (著)
4.7 out of 5 stars  See all reviews (3 customer reviews)

Available from these sellers.


11 used from ¥ 1

Special Offers and Product Promotions


Customers Who Bought This Item Also Bought

商標審査基準 改訂第9版―「意匠法等の一部を改正する法律(平成18年法律第55号)」の改正に対応した

商標審査基準 改訂第9版―「意匠法等の一部を改正する法律(平成18年法律第55号)」の改正に対応した

by 特許庁商標課
¥ 550
図解 パリ条約

図解 パリ条約

by 荒木 好文
3.0 out of 5 stars (1)  ¥ 1,680
産業財産権法の解説―平成15年特許法等の一部改正

産業財産権法の解説―平成15年特許法等の一部改正

by 特許庁総務部総務課制度改正審議室
3.0 out of 5 stars (1)  ¥ 1,100
産業財産権法の解説―平成16年特許法等の一部改正

産業財産権法の解説―平成16年特許法等の一部改正

by 特許庁総務部総務課制度改正審議室
5.0 out of 5 stars (2)  ¥ 1,200
図解TRIPS協定

図解TRIPS協定

by 荒木 好文
5.0 out of 5 stars (1)  ¥ 1,680
Explore similar items

Product Description

内容(「MARC」データベースより)

近時、知的財産やプロパテントの時代と呼ばれ、工業所有権が重視されて、様々な場面で取り上げられ、また、論じられている。2002年刊に次ぐ第4版。


著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より)

工藤 莞司
昭和19年11月山形県生まれ。昭和39年8月特許庁入庁。昭和44年3月中央大学第二法学部卒業。昭和48年7月商標審査官。昭和62年4月商標審判官。平成9年10月商標課長。平成11年4月商標部門代表審判長。平成12年10月特許庁辞職。現在、創英国際特許法律事務所勤務弁理士。創英知的財産研究所副所長。平成16年4月東京都立大学法科大学院教授(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

Product Details

  • 単行本: 485 pages
  • Publisher: 発明協会; 第4版 edition (2004/05)
  • ISBN-10: 4827107645
  • ISBN-13: 978-4827107647
  • Release Date: 2004/05
  • Product Dimensions: 8.3 x 5.8 x 1 inches
  • Average Customer Review: 4.7 out of 5 stars  See all reviews (3 customer reviews)
  • Amazon.co.jp Sales Rank: #563,807 in 本 (See Bestsellers in 本)

    Category Ranking:

    #236 in   > 科学・テクノロジー > 工学 > 経営工学 > 品質管理
    #326785 in   > フォーマット別 > 単行本
  • See Complete Table of Contents


Tag this product

 (What's this?)
Think of a tag as a keyword or label you consider is strongly related to this product.
Tags will help all customers organize and find favorite items.
Your tags: Add your first tag
 

 

Customer Reviews

3 Reviews
5 star:
 (2)
4 star:
 (1)
3 star:    (0)
2 star:    (0)
1 star:    (0)
 
 
 
 
 
Average Customer Review
4.7 out of 5 stars (3 customer reviews)
 
 
 
 
Share your thoughts with other customers:
Most helpful customer reviews

 
3 of 3 people found the following review helpful:
5.0 out of 5 stars 商標法3条と4条は本書が決定版, 2006/1/29
「法律学」として商標法を勉強したい方はともかく、実務や弁理士試験においては、3条と4条については本書+特許庁逐条解説(青本)で必要十分ではないかと思います。実例が多くて読みやすいです。
また、商標審査基準は意外とそっけない(結論だけで理由が書かれていない)記載が多いので、本書で理由を理解していないと覚えるのに苦労します。
Comment Comment | Permalink | Was this review helpful to you? Yes No (Report this)



 
2 of 2 people found the following review helpful:
5.0 out of 5 stars 商標審査の判断基準がじっくり理解できる, 2006/5/7
By k.t (東京都) - See all my reviews
 元特許庁職員の著者が、商標法についての特許庁での内部運用基準「商標審査基準」を、判例や実際に登録になった(拒絶になった)出願を例に、わかりやすく解説しています。
 特に4条に係る基準ついては、それだけで300ページ弱が割かれており、各号についてみっちりと説明がされていて、よく理解できます。、3条についても詳しいです。(その他7、8、10、64条等)

 個人的には、「これでもか!」とばかりの豊富な事例を交えた詳しい説明に、味気ない条文に秘められた熱い思い(?)が汲み取れ、興味を持つことができました。様々な商標が参考として載せられているので、ビジュアルも少しあり、飽きずに読めて面白かったです。
Comment Comment | Permalink | Was this review helpful to you? Yes No (Report this)



 
1 of 1 people found the following review helpful:
4.0 out of 5 stars 審査基準の理解度アップに最適, 2005/11/11
商標法の審査基準は簡潔に記載されていることが多いので、その背景や実例が盛り込まれた本書を読めば、具体的なイメージが沸きやすく、審査基準の理解の助けになると思います。
Comment Comment | Permalink | Was this review helpful to you? Yes No (Report this)


Share your thoughts with other customers: Create your own review
 
 
 
Only search this product's reviews



Customer Discussions

※ Posts in Customer Discussions are written by other customers. Amazon.co.jp supports the free exchange of customer opinions, whether positive or negative. Please use your own judgment when making product purchase decisions.
This product's forum
Discussion Replies Latest Post
No discussions yet

Ask questions, Share opinions, Gain insight
Start a new discussion
Topic:
First post:
Prompts for sign-in
 

   


Listmania!


Look for similar items by category


Look for similar items by subject








i.e., each 本 must be in subject 1 AND subject 2 AND ...

Feedback



Your Recent History

 (What's this?)

After viewing product detail pages or search results, look here to find an easy way to navigate back to pages you are interested in.