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内容紹介
様々な出身分野の学部上級生、大学院生、研究者、技術者が、プローブ顕微鏡を初めて取り扱う場合を出発点とし、かつ、プローブ顕微鏡ユーザの出身分野の多様性から、幅広い読者のニーズ、(1)機器制作を主目的とする、(2)既存の機器を利用して新しい試料の測定をしたい、(3)測定結果のデータ解析により、試料の特性を明らかにしたい、(4)より進んだ計測法や応用事例を知りたい,といった要求に応えるべく、内容を3編構成としている。
基礎編「プローブ顕微鏡を使う前に」として、I 部では、プローブ顕微鏡を支える基礎技術である、エレクトロニクス、信号測定・計測、振動の物理を扱う。II 部では、プローブ顕微鏡の仕組みとその多種にわたる顕微鏡(STM, AFM, 各種SPMなど)の解説、実際の計測での主となるスペクトル計測の原理と、顕微鏡観察に必要となる各種の周辺技術を解説する。
実践編「プローブ顕微鏡の使い方」では、プローブ顕微鏡を実際に扱うにあたっての重要な項目、探針の作製と評価、調べる試料をどのように作製するか、実際の計測にあたっての信号の検出、そしてその信号のデータ解析法、さらに、データ解析にあたっての最新の理論シミュレーション法を扱う。
発展編「よりレベルの高い使い方をするための先端技術」として、より効果的にプローブ顕微鏡の力を発揮するための、様々な試料や多種にわたる測定状況下での計測法を14章に分けて解説する。
読者がその出身分野以外の内容も理解できるような丁寧な記述を本書の執筆者陣に心がけていただいた。
基礎編「プローブ顕微鏡を使う前に」として、I 部では、プローブ顕微鏡を支える基礎技術である、エレクトロニクス、信号測定・計測、振動の物理を扱う。II 部では、プローブ顕微鏡の仕組みとその多種にわたる顕微鏡(STM, AFM, 各種SPMなど)の解説、実際の計測での主となるスペクトル計測の原理と、顕微鏡観察に必要となる各種の周辺技術を解説する。
実践編「プローブ顕微鏡の使い方」では、プローブ顕微鏡を実際に扱うにあたっての重要な項目、探針の作製と評価、調べる試料をどのように作製するか、実際の計測にあたっての信号の検出、そしてその信号のデータ解析法、さらに、データ解析にあたっての最新の理論シミュレーション法を扱う。
発展編「よりレベルの高い使い方をするための先端技術」として、より効果的にプローブ顕微鏡の力を発揮するための、様々な試料や多種にわたる測定状況下での計測法を14章に分けて解説する。
読者がその出身分野以外の内容も理解できるような丁寧な記述を本書の執筆者陣に心がけていただいた。
著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より)
重川 秀実
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退、工学博士。筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻教授
吉村 雅満
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退、博士(工学)。豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻准教授
河津 璋
東京大学工学部応用物理学科卒、工学博士。東京大学大学院工学研究科教授を経て、東京理科大学教授(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退、工学博士。筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻教授
吉村 雅満
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退、博士(工学)。豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻准教授
河津 璋
東京大学工学部応用物理学科卒、工学博士。東京大学大学院工学研究科教授を経て、東京理科大学教授(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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