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商品の説明
内容（「BOOK」データベースより）
故障解析は、信頼性の作り込みにも、起きてしまった故障・事故の再発防止にも重要な役割を担っています。本書は、故障解析の基本的な考え方や、様々な故障解析技術が実務でどのように用いられているのかを豊富な事例により詳しく解説しています。
著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より)
二川 清
1949年生まれ。大阪大学大学院修士課程修了。工学博士。現在、NECエレクトロニクス株式会社シニアプロフェッショナル。信頼性技術功労賞(IEEE信頼性部門日本支部)、推奨報文賞、奨励報文賞(ともに日科技連信頼性・保全性シンポジウム)、論文賞(レーザ学会)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
1949年生まれ。大阪大学大学院修士課程修了。工学博士。現在、NECエレクトロニクス株式会社シニアプロフェッショナル。信頼性技術功労賞(IEEE信頼性部門日本支部)、推奨報文賞、奨励報文賞(ともに日科技連信頼性・保全性シンポジウム)、論文賞(レーザ学会)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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形式:単行本
LSI故障解析技術として世界中でもっともよく使われているOBIRCHの
開発者であるNECの二川さんによるLSI故障解析技術の教科書本です。
LSI故障解析技術は、製品開発、製造工程開発、納入あるいは市場での
不良を解明し、早期に製品にフィードバックし、問題解決し、速く早い
開発、不良を早期に解決し、LSIユーザーが受ける損失の最小化に最も重
要な技術です。
残念ながら、非常に特殊な分野なので、この技術の図書はごくわずかです。
本社は、故障解析技術と信頼性試験技術の全体像を、わかりやすくまとめ
た良書と思います。最新の解析結果も掲載されています。
これからこの業務に携わる人、現在携わっている若手におすすめの本です。
開発者であるNECの二川さんによるLSI故障解析技術の教科書本です。
LSI故障解析技術は、製品開発、製造工程開発、納入あるいは市場での
不良を解明し、早期に製品にフィードバックし、問題解決し、速く早い
開発、不良を早期に解決し、LSIユーザーが受ける損失の最小化に最も重
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残念ながら、非常に特殊な分野なので、この技術の図書はごくわずかです。
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